1. ......................
المؤلف: Singh, Narinder
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
2. Advanced simulation and test methodologies for VLSI design
المؤلف: Russell, Gordon.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
R88
1989
3. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI
المؤلف: edited by Gaynor Taylor and Gordon Russell
المکتبة: (طهران)
موضوع: Design and construction -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Computer-aided design,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
A416
1992
4. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: Singh, Narinder
المکتبة: (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
5. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: Singh, Narinder, 6591-
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
6. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
7. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
8. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
9. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
10. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: by Narinder Singh
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
11. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
12. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: Singh, Narinder, 6591-
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
13. An introduction to logic circuit testing /
المؤلف: Parag K. Lala
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
14. Built-in test for VLSI
المؤلف: / Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
15. Built-in test for VLSI
المؤلف: / Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
16. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
المؤلف: edited by R.E. Massara
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integratation - Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
D4749
1989
17. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
المؤلف: edited by R.E. Massara
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز المعلومات (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
D4749
1989
18. Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production
المؤلف: Jakubowski, Andrzej
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing
رده :
TK
7874
.
J35
19. Digital circuit testing and testability
المؤلف: Lala, Parag K.
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration,Testing ، Digital integrated circuits,، Integrated circuits - Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
20. Digital circuit testing and testability
المؤلف: Lala, Parag K.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
